发布时间：2012-06-28浏览次数：91
题 目：用孤立缺陷探测半导体中自由载流子的扩散
报告人：张勇教授
美国北卡罗来纳大学夏洛特分校电子与计算机工程系
时 间：2012年6月28日下午2:30
地 点：南强二 108
欢迎广大师生参加！
电子科学系
2012.6.27
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