用孤立缺陷探测半导体中自由载流子的扩散

发布时间：2012-06-28浏览次数：

 

题  目：用孤立缺陷探测半导体中自由载流子的扩散

报告人：张勇教授

美国北卡罗来纳大学夏洛特分校
电子与计算机工程系

时  间：2012年6月28日下午2:30

地  点：南强二 108

 

欢迎广大师生参加！

 

电子科学系

2012.6.27

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