陈国龙

发布时间:2016-08-04浏览次数:13


个人简介:

    陈国龙,1969年7月生,厦门大学电子科学系高级实验师,福建省半导体照明工程技术研究中心、厦门市半导体照明检测认证中心和厦门大学分析测试中心成员。1997年厦门大学机电系分析仪器专业硕士毕业。讲授过多门理论和实验课。目前主要从事半导体发光器件性能的检测研究工作。在国内相关领域刊物上发表多篇学术论文,在国内外重要学术刊物上参与发表10多篇学术论文。负责多个科技服务项目,参与10多个横纵向科研和科技服务项目(国家、省、市和企事业单位)。2010年获得厦门大学中国银行奖教金,2011年被评为厦门大学计量认证迎评工作先进个人。

联系方式:

Email: glchen@xmu.edu.cn Tel: 0592-2181681 Cell: 13959280795

研究方向:

半导体照明检测技术


科研项目

 负责厦门市科学仪器设备共享平台项目,2009-2013

 负责多个企事业单位科技服务项目,2010-2013

专利和软件著作权

★ 陈国龙,姚琦,吕毅军等,LED光强角分布测量软件,计算机软件著作权登记号:2013SR120182,证书号:软著登字第0625944号,批准日期:2013.11.6

★ 陈国龙,肖华,吕毅军等,一种用于热光参数测试仪的夹具,实用新型专利,授权号:CN203231990U,授权日:2013.10.09

★ 吕毅军,朱丽虹,陈国龙等,一种光电探测器绝对光谱响应的校准方法及其装置,专利号:201210395731.1, 公开日:2013.02.06

★ 吕毅军,朱丽虹,陈国龙等,光电探测器绝对光谱响应及校准测量软件,计算机软件著作权登记号:2013SR018298,证书号:软著登字第0524060号,批准日期:2013.2.28

★ 吕毅军,高玉琳,朱丽虹,薛睿超,陈国龙,陈忠,脉冲法LED热阻测试系统,计算机软件著作权登记号:2013SR018568,证书号:软著登字第0524330号,批准日期:2013.2.28

★ 倪祖荣,王陈宁,肖芬,陈国龙等. 微波网络分析仪,2007年1月,实用新型专利200720006031.3.

★ 薛睿超,黄怡,吕毅军,高玉琳,朱丽虹,陈国龙,陈忠,控温LED电特性可编程自动测试系统,计算机软件著作权登记号:2012SR062444,证书号:软著登字第0430480号,批准日期:2012.7.12

★ 薛睿超,吕毅军,高玉琳,朱丽虹,陈国龙,陈忠,控温LED恒流及脉冲特性可编程自动测试系统,计算机软件著作权登记号:2013SR018479,证书号:软著登字第0524241号,批准日期:2013.2.28

★ 吕毅军,张纪红,朱丽虹,陈国龙、高玉琳、陈忠,一种太阳能电池热阻测试装置及其测试方法,发明专利,申请号:201310031364.1,公开号:CN103149521A,公开日:2013.6.12

★ 吕毅军,林思棋,吴弼卿,姚琦,朱丽虹,陈国龙,高玉琳,陈忠,一种发光二极管结温的测量方法,发明专利,申请号:201310183485.8,公开号:CN103234656A,公开日:2013.08.07

★ 朱丽虹,肖华,吕毅军,高玉琳,陈国龙,陈忠,一种蓝光LED激发荧光粉性能测试装置及测试方法,发明专利,申请号:201310196584.X,公开号:CN103308499A,公开日:2013.09.18

代表性论文

 可控温大功率LED光强空间分布测试系统的设计,陈国龙,姚琦,朱丽虹等,激光与光电子学进展,2014,51, 031202

 外部电压源法测试大电压LED器件/模块热阻,陈国龙,朱丽虹,郭自泉等,实验技术与管理,2013,30(7):29-32

 负偏压法测试大电压LED器件热阻,陈国龙,雷瑞瑞,陈焕庭等,实验技术与管理,2012,29(4):48-52

 基于Spectro320e光谱仪的白光LED荧光粉性能测试,陈国龙,薛浩,张纪红等,现代显示,2012,135:29-33

 远程荧光体白光LED的发光性能,肖华,吕毅军,朱丽虹,王阳夏,陈国龙*,高玉琳,林思琪,徐云鑫,光子学报,2014,42(1):1-6(通信作者)

 两种高温老化方式对功率白光LED光热参数的影响,薛浩,陈国龙,吕毅军等,光电子激光,2012,23(5):849-854

 Thermal behavior and infrared properties of vertical-electrode GaN LED, H.T. Chen, Y.L. Gao, Y.J. Lu*, G. L. Chen, Z. Chen, Heat Transfer Engineering, 2012, 33(3): 255-260

 Determining junction temperature in InGaN light-emitting diodes using low forward currents,Siqi Lin, Tienmo Shih, Yijun Lu, Yulin Gao*, Lihong Zhu, Guolong Chen, Biqing Wu, Ziquan Guo, Jihong Zhang, Xianguang Fan, Richard Rugin Chang, and Zhong Chen*,IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 60(11):3775-3779